X熒光光譜儀DSF-R2款 是專門針對 RoHS、無鹵、EN71、合金元素等檢測分析設計的一款產品

打破傳統儀器直線的設計，采用流線體的整體化設計，儀器時尚大方

本機采用 USB3.0 接口，保證了數據準確高速的傳輸

2.X熒光光譜儀硬件部分主要配置 

2.1 Si-PIN 電制冷半導體探測器 

 2.1.1 Si-PIN 電制冷半導體探測器；分辨率：149±5 電子伏特 

 2.1.2 放大電路模塊:對樣品特征 X 射線進行探測；把探測采集的信息,進一步放大 

2.2 X 射線激發裝置 

2.2.1 燈絲電流>/大輸出：1mA 

2.2.2 屬于半損耗型部件，50W，空冷 

2.3 高低壓電源 

2.3.1 電壓>/大輸出： 50kV 

2.3.2 </小 5kv 可控調節 

2.3.3 自帶電壓過載保護 

2.4 多道脈沖幅度分析器 

2.4.1 將采集的模擬信號轉換成數字信號,并將處理結果提供給上位機軟件 

2.4.2 >/道數： 4096 

2.4.3 包含信號增強處理 

2.5 光路過濾模塊 

 2.5.1 降低 X 射線光路發送過程中的干擾，保證探測器接收信號準確 

2.5.2 將準直器與濾光片整合 

2.6 準直器自動切換模塊 

2.6.1 多達 7 種選擇，口徑分別為 8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 4＃，2＃, 1＃, 0.5＃ 

 2.7 濾光片自動切換模塊 

2.7.1 五種濾光片的自由選擇和切換 

2.8 準直器和濾光片的自由組合模塊 

2.8.1 多達幾十種的準直器和濾光片的自由組合 

2.9 工作曲線自動選擇模塊 

2.9.1 自動選擇工作曲線，摒棄手動選擇，避免人為操作失誤，將自動化和智能化 演繹得 更完美，使操作更人性，更方便 

3. X熒光光譜儀軟件配置 

 3.1 X熒光光譜儀 RoHS 有害元素分析軟件 

 3.1.1 專門針對 RoHS 檢測而開發，對采集的光譜信號進行數據處理、計算并報告 顯示測量結果。 

3.2 X熒光光譜儀合金成分元素分析軟件 

3.2.1 元素分析范圍：從硫（S）到鈾（U）

 3.2.2 一次可同時分析 24 個元素 

3.2.3 分析檢出限可達 100PPM 

3.2.4 含量分析范圍一般為 100ppm—99.9% 

3.2.5 軟件自帶多種圖像處理和分析計算方法 

3.2.6 多次測量重復性可達 0.1％ 

3.2.7 長期工作穩定性為 0.1％ 

3.2.8 能量分辨率為 149±5eV 

3.2.9 軟件自帶多種圖像處理和計算方法 

3.3 功能介紹 ※ 專門應對歐盟 RoHS 指令中六種物質涉及的五種元素 Cd, Pb, Hg, Br, Cr 測試， 測量時間為60-200 秒 ※ 合金（如黃銅、不銹鋼等合金）所含元素含量分析 ※ 操作界面簡潔直觀，使用方便，無需專人操作